Travaux pratiques de microscopie électronique à balayage et de microanalyse X PDF Download

Author: Jean-François Bresse
Publisher:
ISBN: 9782900195215
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Languages : fr
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Author: François Brisset
Publisher: EDP Sciences
ISBN: 2759803481
Category : Science
Languages : fr
Pages : 930

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Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.

Author: Lahcen Khouchaf
Publisher:
ISBN: 9782340018068
Category :
Languages : fr
Pages : 230

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Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation. Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur... Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG. Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM).

Author: Jacky Ruste
Publisher:
ISBN: 9782759823222
Category :
Languages : fr
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La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.

Author: Joseph I. Goldstein
Publisher: Springer
ISBN: 1493966766
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 554

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This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researchers will find the text to be an authoritative and scholarly resource, while SEM operators and a diversity of practitioners — engineers, technicians, physical and biological scientists, clinicians, and technical managers — will find that every chapter has been overhauled to meet the more practical needs of the technologist and working professional. In a break with the past, this Fourth Edition de-emphasizes the design and physical operating basis of the instrumentation, including the electron sources, lenses, detectors, etc. In the modern SEM, many of the low level instrument parameters are now controlled and optimized by the microscope’s software, and user access is restricted. Although the software control system provides efficient and reproducible microscopy and microanalysis, the user must understand the parameter space wherein choices are made to achieve effective and meaningful microscopy, microanalysis, and micro-crystallography. Therefore, special emphasis is placed on beam energy, beam current, electron detector characteristics and controls, and ancillary techniques such as energy dispersive x-ray spectrometry (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD). With 13 years between the publication of the third and fourth editions, new coverage reflects the many improvements in the instrument and analysis techniques. The SEM has evolved into a powerful and versatile characterization platform in which morphology, elemental composition, and crystal structure can be evaluated simultaneously. Extension of the SEM into a "dual beam" platform incorporating both electron and ion columns allows precision modification of the specimen by focused ion beam milling. New coverage in the Fourth Edition includes the increasing use of field emission guns and SEM instruments with high resolution capabilities, variable pressure SEM operation, theory, and measurement of x-rays with high throughput silicon drift detector (SDD-EDS) x-ray spectrometers. In addition to powerful vendor- supplied software to support data collection and processing, the microscopist can access advanced capabilities available in free, open source software platforms, including the National Institutes of Health (NIH) ImageJ-Fiji for image processing and the National Institute of Standards and Technology (NIST) DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and spectral simulation, both of which are extensively used in this work. However, the user has a responsibility to bring intellect, curiosity, and a proper skepticism to information on a computer screen and to the entire measurement process. This book helps you to achieve this goal. Realigns the text with the needs of a diverse audience from researchers and graduate students to SEM operators and technical managers Emphasizes practical, hands-on operation of the microscope, particularly user selection of the critical operating parameters to achieve meaningful results Provides step-by-step overviews of SEM, EDS, and EBSD and checklists of critical issues for SEM imaging, EDS x-ray microanalysis, and EBSD crystallographic measurements Makes extensive use of open source software: NIH ImageJ-FIJI for image processing and NIST DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and EDS spectral simulation. Includes case studies to illustrate practical problem solving Covers Helium ion scanning microscopy Organized into relatively self-contained modules – no need to "read it all" to understand a topic Includes an online supplement—an extensive "Database of Electron–Solid Interactions"—which can be accessed on SpringerLink, in Chapter 3

Author: Joseph Goldstein
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 1461304911
Category : Science
Languages : en
Pages : 830

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In the last decade, since the publication of the first edition of Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic SEM and EPMA. High resolution imaging has been developed with the aid of an extensive range of field emission gun (FEG) microscopes. The magnification ranges of these instruments now overlap those of the transmission electron microscope. Low-voltage microscopy using the FEG now allows for the observation of noncoated samples. In addition, advances in the develop ment of x-ray wavelength and energy dispersive spectrometers allow for the measurement of low-energy x-rays, particularly from the light elements (B, C, N, 0). In the area of x-ray microanalysis, great advances have been made, particularly with the "phi rho z" [Ij)(pz)] technique for solid samples, and with other quantitation methods for thin films, particles, rough surfaces, and the light elements. In addition, x-ray imaging has advanced from the conventional technique of "dot mapping" to the method of quantitative compositional imaging. Beyond this, new software has allowed the development of much more meaningful displays for both imaging and quantitative analysis results and the capability for integrating the data to obtain specific information such as precipitate size, chemical analysis in designated areas or along specific directions, and local chemical inhomogeneities.

Author:
Publisher:
ISBN: 9782901483007
Category :
Languages : fr
Pages : 152

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Author:
Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 18

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Author: Association nationale de la recherche technique
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
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Author: Pierre Jeanrot
Publisher:
ISBN:
Category : Materials
Languages : fr
Pages : 150

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