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Failure Analysis of Integrated Circuits
Author: Lawrence C. WagnerPublisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 9780412145612
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 274
Book Description
This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.
Proceedings of the ... International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits
Author: Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits, International Symposium on
Author: 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2017)
Author: Integrated Circuit Failure Analysis
Author: Friedrich BeckPublisher: John Wiley & Sons
ISBN: 9780471974017
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 198
Book Description
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.
Author: IEEE Singapore Section
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