Guide de preparation des echantillons pour la microscopie electronique en transmission PDF Download

Author: Jeanne Ayache
Publisher:
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Category : Electron microscopy
Languages : fr
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Author: Jeanne Ayache
Publisher: PU Saint-Etienne
ISBN: 9782862724423
Category : Transmission electron microscopy
Languages : fr
Pages : 399

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Book Description
Cet ouvrage s'adresse à une large communauté scientifique qui utilise la microscopie électronique en transmission (TEM) pour analyser la structure de tout type de matériaux de la Physique à la Biologie. Il est constitué de deux livres: Tome 1 " Méthodologie " et Tome 2 " Techniques ". Le tome 2 contient la description de 14 techniques de préparations préalables et/ou complémentaires ainsi que 21 techniques de préparation de lame mince pour leur observation en TEM. Les textes comportent les principes de la technique, les conditions expérimentales de réalisation, les modes opératoires détaillés, les variantes possibles de la préparation, les avantages, les inconvénients, et le ou les types d'artéfact caractéristiques de la technique qui sont observés au TEM. On y trouve aussi le ou les domaines courants d'application de la technique, les types de matériaux préparés, leur conditionnement, les techniques d'analyses possibles à l'issue de chaque préparation, et les risques encourus lors de la préparation. Les deux tomes sont liés et complémentaires avec le site Internet interactif http://temsamprep.in2p3.fr

Author: Jeanne Ayache
Publisher: PU Saint-Etienne
ISBN: 9782862724416
Category : Transmission electron microscopy
Languages : fr
Pages : 270

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Cet ouvrage s'adresse à une large communauté scientifique qui utilise la microscopie électronique en transmission (TEM) pour analyser la structure de tout type de matériaux de la Physique à la Biologie. Il est constitué de deux livres : Tome 1 " Méthodologie " et Tome II " Techniques ". Le tome I propose la méthodologie nécessaire pour aborder la préparation d'un échantillon pour la microscopie. II apporte en particulier la démarche à suivre qui tient compte du problème matériau posé, du type de matériau, de sa structure et de ses propriétés, pour choisir la meilleur technique. II apporte les outils pour la préparation et l'observation des échantillons. II comportera des renseignements généraux sur les propriétés physiques, la classification des différents types de matériaux, de microstructures et sur les mécanismes physiques et chimiques impliqués dans les différents types de techniques. II permet, en particulier, d'identifier les artéfacts observés au microscope qui sont créés par les effets des différentes étapes de préparations (techniques ioniques, mécaniques ou chimiques). II présente les différents types d'analyses et les modes d'observation en TEM et aussi des analyses comparatives entre les techniques de préparation pour différents types de matériaux : des résultats comparatifs obtenus sur un même matériau, préparé par différentes techniques, permettent de comprendre les choix amenant à la décision finale. Enfin, il discute des possibilités de combiner plusieurs techniques pour résoudre des problèmes complexes de préparation et obtenir des lames minces analysables en TEM.

Author: Najat Assem
Publisher:
ISBN: 9783838141558
Category :
Languages : fr
Pages : 64

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Author:
Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 16

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Author: J. David Musgraves
Publisher: Springer Nature
ISBN: 3319937286
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 1851

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This handbook provides comprehensive treatment of the current state of glass science from the leading experts in the field. Opening with an enlightening contribution on the history of glass, the volume is then divided into eight parts. The first part covers fundamental properties, from the current understanding of the thermodynamics of the amorphous state, kinetics, and linear and nonlinear optical properties through colors, photosensitivity, and chemical durability. The second part provides dedicated chapters on each individual glass type, covering traditional systems like silicates and other oxide systems, as well as novel hybrid amorphous materials and spin glasses. The third part features detailed descriptions of modern characterization techniques for understanding this complex state of matter. The fourth part covers modeling, from first-principles calculations through molecular dynamics simulations, and statistical modeling. The fifth part presents a range of laboratory and industrial glass processing methods. The remaining parts cover a wide and representative range of applications areas from optics and photonics through environment, energy, architecture, and sensing. Written by the leading international experts in the field, the Springer Handbook of Glass represents an invaluable resource for graduate students through academic and industry researchers working in photonics, optoelectronics, materials science, energy, architecture, and more.

Author: Philippe Jonnard
Publisher:
ISBN: 9782759806768
Category :
Languages : fr
Pages : 216

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La microscopie électronique à balayage et les microanalyses sont employées très largement dans les secteurs académiques et industriel pour imager, caractériser et quantifier des échantillons solides de toute nature. Pour effectuer des analyses de qualité, précises et reproductives il n'est souvent pas possible d'utiliser un échantillon tel quel. Une phase préalable de préparation est nécessaire. C'est le but de cet ouvrage d'expliquer aux lecteurs et utilisateurs du MEB et des microanalyses les différents moyens de réaliser cette étape cruciale précédant leur analyse.Les différents chapitres reprennent les thèmes abordés lors des journées pédagogiques du GN-MEBA consacrées à la "Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses". Ce sont la découpe, l'enrobage, les polissages mécanique et ionique, le décapage et l'attaque métallographique, le nettoyage et la décontamination, la préparation d'échantillons minces, la fixation, le stockage, la métallisation, le marquage de surface et la préparation d'échantillons mous. Ce livre intéressera donc particulièrement les expérimentateurs désireux de connaître les différentes techniques actuelles de préparation et de conservation des échantillons.Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications, en langue française, du GN-MEBA consacrée aux principes, techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation utilisés en microscopie électronique à balayage et en microanalyses. [Source : 4e de couv.]

Author: Jean-Baptiste Sabarita
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 215

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Technique récente, la microscopie à rayons X offre aujourd'hui une résolution spatiale supérieure à celle de la microscopie optique (20 nm contre 200 nm en microscopie optique confocal laser). Elle offre également un meilleur pouvoir de pénétration que la microscopie électronique (jusqu'à 10 μm contre 1 μm en microscopie électronique à moyenne et haute tension). Ainsi, la microscopie à rayons X mous (longueurs d'onde comprises entre 2,4 et 4,3 nanomètres) permet l'analyse à haute résolution en 2 ou 3 dimensions d'échantillons biologiques placés dans des conditions proches de leur milieu naturel (contrairement aux microscopes électroniques classiques qui imposent une préparation des échantillons). Cependant, la réduction de la dose absorbée par l'échantillon nécessite des durées d'expositions aussi courtes que possible. Or, effectuer une acquisition avec peu de photons se fait au détriment du rapport signal sur bruit des images. Un de nos objectifs a été le développement d'outils pour l'amélioration et la restauration de ces images. La première partie de nos travaux a consisté à déterminer la fonction de transfert du microscope à rayons X en transmission et à comparer les résultats obtenus avec le modèle théorique de la formation des images. Dans la seconde partie, nous avons complété les modèles existants liant le nombre de photons et le contraste, en prenant en compte le mode de formation des images dans le microscope. La troisième partie de ces travaux concerne le développement de techniques de traitement numérique des images dans le but d'améliorer et de restaurer des images obtenues par microscopie à rayons X avec de faibles temps d'exposition. Ces processus ont été appliqués à l'étude par microscopie à rayons X de différents types d'échantillons biologiques

Author: Armand Béché
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 188

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Ce travail de thèse est basé sur l'étude des déformations dans les matériaux à l'échelle nanométrique. En effet, depuis une dizaine voire une quinzaine d'années, le développement de nouveaux matériaux structuraux ou destinés à l'industrie de la microélectronique nécessite la maîtrise des phénomènes de déformation à une telle échelle. La demande de caractérisation se trouve donc en forte croissance, avec des contraintes de plus en plus forte en termes de résolution spatiale et de sensibilité en déformation. La mise au point et/ou l'amélioration de techniques repondant à ces critères est donc nécessaire. Le microscope électronique en transmission étant l'un des seuls instruments capables de mesurer quantitativement des déformations à l'échelle nanométrique, quatre différentes techniques liées à cet appareil ont été étudiées : la technique des moirés, la diffraction en faisceau convergent, la nanodiffraction et l'holographie en champ sombre. La disponibilité du microscope de dernière génération FEI Titan a permis d'obtenir des résultats marquants pour chacune de ces techniques. Les quatre techniques étudiées font l'objet d'une étude poussée sur leur résolution, leur sensibilité en déformation, leurs limites d'utilisation, leur mode d'acquisition et les contraintes qu'elles imposent dans la préparation d'échantillons. Ainsi, la technique des moirés possède une résolution de l'ordre de la vingtaine de nanomètre avec une sensibilité de 4.10^-4 mais nécessite des échantillons particuliers. La diffraction en faisceau convergent est la technique possédant la meilleure résolution spatiale (1 à 2 nm) combinée à une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Cependant, l'inhomogénéité du champ de déplacement dans l'épaisseur de l'échantillon, phénomène très présent dans les lames minces, rend cette méthode difficile à utiliser de façon courante. La nanodiffraction est probablement la technique la plus facile à mettre en place et s'applique à la plus grande partie des matériaux ou objets. Elle possède une résolution intéressante (jusqu'à 3 nm) mais une sensibilité en déformation limitée à 6.10^-4 dans le meilleur des cas. Pour finir, l'holographie en champ sombre, technique très récente, offre une bonne résolution (autour de 4 ou 5 nm) avec une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Ces quatre techniques sont comparées entre elles sur des échantillons le permettant.

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Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
ISBN:
Category :
Languages : en
Pages : 8

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