Conception Et Etude de la Fiabilité Des Amplificateurs de Puissance PDF Download
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Author: Thomas Quémerais Publisher: Omniscriptum ISBN: 9786131544750 Category : Languages : fr Pages : 216
Book Description
Avec l' mergence d'applications millim triques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilit est devenue un enjeu extr mement important pour l'industrie. Dans un metteur/r cepteur radio, les probl mes de fiabilit concernent principalement les transistors MOS int gr s dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement lev des puissances. Ce livre concerne la conception et l' tude de la fiabilit des amplificateurs de puissance fonctionnant aux fr quences millim triques en technologies CMOS avanc es. Le m moire est articul autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l' tude, la conception, la mod lisation et la caract risation des l ments actifs et passifs int gr s sur silicium et utilis s pour r aliser des amplificateurs de puissance aux fr quences millim triques. Le 3 me chapitre d crit les trois amplificateurs de puissance con us et r alis s pour les tests de fiabilit . Enfin, le dernier chapitre propose une tude compl te de la fiabilit de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie
Author: Thomas Quémerais Publisher: Omniscriptum ISBN: 9786131544750 Category : Languages : fr Pages : 216
Book Description
Avec l' mergence d'applications millim triques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilit est devenue un enjeu extr mement important pour l'industrie. Dans un metteur/r cepteur radio, les probl mes de fiabilit concernent principalement les transistors MOS int gr s dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement lev des puissances. Ce livre concerne la conception et l' tude de la fiabilit des amplificateurs de puissance fonctionnant aux fr quences millim triques en technologies CMOS avanc es. Le m moire est articul autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l' tude, la conception, la mod lisation et la caract risation des l ments actifs et passifs int gr s sur silicium et utilis s pour r aliser des amplificateurs de puissance aux fr quences millim triques. Le 3 me chapitre d crit les trois amplificateurs de puissance con us et r alis s pour les tests de fiabilit . Enfin, le dernier chapitre propose une tude compl te de la fiabilit de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie
Author: Thomas Quémerais Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 143
Book Description
Avec l'émergence d'applications millimétriques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilité est devenue un enjeu extrêmement important pour l'industrie. Dans un émetteur/récepteur radio, les problèmes de fiabilité concernent principalement les transistors MOS intégrés dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement élevés des puissances. Ces composants sont susceptibles de se détériorer fortement par le phénomène de l'injection de porteurs chauds impactant lourdement les performances des amplificateurs. Ce travail de thèse concerne la conception et l'étude de la fiabilité des amplificateurs de puissance fonctionnant aux fréquences millimétriques en technologies CMOS avancées. Le mémoire est articulé autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l'étude, la conception, la modélisation et la caractérisation des éléments actifs et passifs intégrés sur silicium et utilisés pour réaliser des amplificateurs de puissance aux fréquences millimétriques. Le troisième chapitre décrit les trois amplificateurs de puissance conçus et réalisés pour les tests de fiabilité. Enfin, le dernier chapitre propose une étude complète de la fiabilité de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie.
Author: Thomas Quémerais Publisher: Univ Europeenne ISBN: 9783841675217 Category : Languages : fr Pages : 180
Book Description
Avec l'emergence d'applications millimetriques (radar automobile ou le WHDMI...), la fiabilite est devenue un enjeu extremement important pour l'industrie. Dans un emetteur/recepteur radio, les problemes de fiabilite concernent principalement les transistors MOS integres dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement eleve des puissances. Ces composants sont susceptibles de se deteriorer fortement par le phenomene de l'injection de porteurs chauds impactant lourdement les performances des amplificateurs. Ce travail concerne la conception et l'etude de la fiabilite de ces circuits en technologies CMOS avancees. Le livre est articule autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l'etude, la conception, la modelisation et la caracterisation des elements actifs et passifs integres sur silicium et utilises pour realiser des amplificateurs de puissance aux frequences millimetriques. Le troisieme chapitre decrit les trois amplificateurs de puissance concus et realises pour les tests de fiabilite. Le dernier chapitre propose une etude complete de la fiabilite de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie.
Author: Abdelkhalak El Hami Publisher: ISTE Press - Elsevier ISBN: 1785481908 Category : Technology & Engineering Languages : en Pages : 298
Book Description
Embedded Mechatronic Systems 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization presents advances in research within the field of mechatronic systems, which integrates reliability into the design process. Providing many detailed examples, this book develops a characterization methodology for faults in mechatronic systems. It analyzes the multi-physical modeling of faults, revealing weaknesses in design and failure mechanisms. This development of meta-models enables us to simulate effects on the reliability of conditions of use and manufacture. Provides many detailed examples Develops a characterization methodology for faults in mechatronic systems Analyzes the multi-physical modeling of faults, revealing weaknesses in design and failure mechanisms
Author: Abdelkhalak El Hami Publisher: Elsevier ISBN: 0081004699 Category : Technology & Engineering Languages : en Pages : 273
Book Description
In operation, mechatronics embedded systems are stressed by loads of different causes: climate (temperature, humidity), vibration, electrical and electromagnetic. These stresses in components induce failure mechanisms should be identified and modeled for better control. AUDACE is a collaborative project of the cluster Mov'eo that address issues specific to mechatronic reliability embedded systems. AUDACE means analyzing the causes of failure of components of mechatronic systems onboard. The goal of the project is to optimize the design of mechatronic devices by reliability. The project brings together public sector laboratories that have expertise in analysis and modeling of failure, major groups of mechatronics (Valeo and Thales) in the automotive and aerospace and small and medium enterprises that have skills in characterization and validation tests. Find and develop ways to characterize and validate the design robustness and reliability of complex mechatronic devices Develop ways to characterize physical and chemical phenomena, Identify mechanisms of failure of components of these devices, Analyze the physical and / or chemical mechanisms of failure, in order of importance To model failure mechanisms and design optimization.
Author: Mohamed Aziz Rifi Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 0
Book Description
Ces travaux de thèse s'intègrent dans le cadre du processus d'amélioration continue de l'efficacité et de la linéarité des amplificateurs de puissance en présence des signaux sur porteuses modulées utilisés par les systèmes de télécommunications modernes.Ces signaux présentent un PAPR élevé et une distribution statistique d'enveloppe centrée en-deçà de la valeur crête d'enveloppe. De ce fait, les amplificateurs de puissance conventionnel (classe AB à polarisation fixe) sont souvent surdimensionnés pour répondre aux besoins des industriels télécoms. La technique de suivi d'enveloppe a été utilisée pour augmenter la PAE le long de l'OBO (10 dB pour LTE) tout en gardant un gain en puissance constant associé à une bonne linéarité en termes de conversion d'AM/AM. Une méthode de conception d'amplificateur de puissance en technologie MMIC fondé sur l'utilisation des HEMTs GaN a été développée et utilisée pour concevoir un AP délivrant une puissance de sortie de 4W et fonctionnant en bande K [17-20GHz]. L'AP réalisé a été ensuite couplé à un modulateur numérique de polarisation de drain. L'ensemble AP et modulateur de polarisation constituant un système de suivi d'enveloppe appelé APSE a été caractérisé en termes d'efficacité et de linéarité en présence de signaux modulés. L'APSE montre des performances très intéressantes comparées à celles obtenue avec un AP à polarisation fixe. En effet à un OBO de l'ordre de 7dB, dans la bande [17-20GHz], la PAE est améliorée de [10-7.5 points]. La PAE moyenne le long de l'OBO varie entre 32 et 36% sur la bande considérée et elle est associée à une EVM variant entre 5 à 1.6% avec une DPD quasi-statique appliquée au signal en bande de base. Les caractérisations de l'APSE ont démontré l'intérêt de l'utilisation des amplificateurs de puissance à suivi d'enveloppe dans les systèmes de télécommunications modernes.
Author: Sarah Huygue Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 236
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Ces travaux de thèse décrivent le développement et la mise en œuvre d'un protocole expérimental pour estimer la fiabilité d'une technologie "bulk" d'amplificateur optique à semiconducteur (AOS) 1,55æm de couche active InGaAsP épitaxiée sur substrat InP. Il est basé sur l'analyse des paramètres électriques et optiques (puissance optique, pseudo-courant de seuil, gain, figure de bruit, puissance de saturation, ) suivis lors de différents tests de vieillissement sous différents facteurs d'accélération (courant-température). Ces études expérimentales, confortées par des simulations physiques 2D par éléments finis en introduisant un grand nombre de paramètres physiques extraits de caractérisations expérimentales, ont permis de mettre en évidence trois signatures de défaillance distinctes. Une première prédiction de distribution des durées de vie d'un AOS est également proposée à partir d'une approche statistique basée sur la méthode Monte-Carlo appliquée dans le cadre d'une faible population de composants et d'une faible dérive des paramètres.
Book Description
L'augmentation incessante du nombre d'utilisateurs de téléphones portables a conduit à l'élaboration de nouvelles normes cellulaires afin d'accroître le nombre de fréquences allouées mais aussi d'améliorer la fourniture de services[...]. L'objectif de ce travail consiste à élaborer une méthode de conception globale des amplificateurs de puissance très large bande appliqués aux radiotéléphones cellulaires. Cette approche est basée sur l'utilisation d'une configuration push-pull alliant les fonctions d'amplificateur de puissance et d'amplification lineaire par réjection naturelle de l'harmonique...
Author: Thomas Quémerais
Author: Thomas Quémerais
Author: Thomas Quémerais
Author: Thomas Quémerais
Author: Abdelkhalak El Hami
Author: Abdelkhalak El Hami
Author: Alexandre Guy
Author: 
Author: Mohamed Aziz Rifi
Author: Sarah Huygue
Author: Nelsy Monsauret