Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables PDF Download
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Author: Raoul Velazco Publisher: ISBN: Category : Languages : en Pages : 250
Book Description
Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Author: Raoul Velazco Publisher: ISBN: Category : Languages : en Pages : 250
Book Description
Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Author: École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 225
Book Description
CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE ET LA MISE EN UVRE D'UN SYSTEME INDUSTRIEL D'ANALYSE DE DEFAILLANCES DE CIRCUITS INTEGRES, EN L'ABSENCE DE DONNEES DE CONCEPTION, ET BASE SUR LE TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS. LE PRINCIPE CONSISTE A COMPARER LES INFORMATIONS ELECTRIQUES (IMAGES STROBOSCOPIQUES ET COURBES) ISSUES DU COMPOSANT DEFAILLANT A CELLES D'UN CIRCUIT DE REFERENCE. LE DEVELOPPEMENT DE CES TECHNIQUES DE TEST A NECESSITE L'AUTOMATISATION DES PROCEDURES D'ACQUISITION. POUR RESOUDRE LE PROBLEME MAJEUR DE LA PROCEDURE DE COMPARAISON, A SAVOIR LE RECYCLAGE SPATIAL, NOUS AVONS MIS EN UVRE DES TECHNIQUES BASEES SUR LA CORRELATION D'IMAGES. CES TRAVAUX ONT DEBOUCHE SUR LA PRESENTATION DU SYSTEME DE DIAGNOSTIC ET DE RESULTATS OBTENUS AU COURS D'ANALYSES
Author: Raoul Velazco
Author: Raoul Velazco
Author: Raúl Velazco
Author: 
Author: École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique
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Author: Sion Gontran
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Author: Jean-Philippe Pierrel
Author: Wladimir Mercouroff
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