Author: International Conference on the Applications of the Mössbauer Effect
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : un
Pages : 704
Book Description
Exposés et communications présentés à la Conférence Internationale sur les Applications de l'Effet Mössbauer
Author: International Conference on the Applications of the Mössbauer Effect
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : un
Pages : 704
Book Description
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ISBN:
Category :
Languages : un
Pages : 704
Book Description
Exposes Et Communications Presentes a La Conference Internationale Sur Les Applications De L'Effet Moessbauer
Author: Conference Internationale Sur Les Applications De L'Effet Moessbauer, Bendor, France, 1974
Publisher:
ISBN:
Category : Moessbauer Effect
Languages : en
Pages : 704
Book Description
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ISBN:
Category : Moessbauer Effect
Languages : en
Pages : 704
Book Description
Exposés Et Communications Présentés À la Conférence Internationale Sur Les Applications de L'Effet Mössbauer
Exposés Et Communications Présentés À la Conférence Internationale Sur Les Applications de L'effet Mössbauer
Exposés et communications présentés à la Conférence Internationale Applications of the Mössbauer Effect
Author: International Union of Pure and Applied Physics
Publisher:
ISBN:
Category : Mössbauer effect
Languages : en
Pages : 704
Book Description
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Category : Mössbauer effect
Languages : en
Pages : 704
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Esposés Et Communications Présentés À la Conférence Internationale Sur Les Applications de L'effet Mössbauer
International Conference on the Applications of the Mössbauer Effect
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Author: Peter Pichler
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3709105978
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 576
Book Description
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3709105978
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 576
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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.