Études In-situ Dans Un Microscope Électronique en Transmission Des Réactions À L'état Solide Entre Métal Et Nanofil de Ge PDF Download
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Author: Khalil El Hajraoui Publisher: ISBN: Category : Languages : en Pages : 0
Book Description
Semiconductor nanowires (NWs) are promising candidates for many device applications ranging from electronics and optoelectronics to energy conversion and spintronics. However, typical NW devices are fabricated using electron beam lithography and therefore source, drain and channel length still depend on the spatial resolution of the lithography. In this work we show fabrication of NW devices in a transmission electron microscope (TEM) where we can obtain atomic resolution on the channel length using in-situ propagation of a metallic phase in the semiconducting NW independent of the lithography resolution. We show results on semiconducting NW devices fabricated on two different electron transparent Si3N4 membranes: a planar membrane and a membrane where devices are suspended over holes. First we show the process of making lithographically defined reliable electrical contacts on individual NWs. Second we show first results on in-situ propagation of a metal-semiconductor phase in Ge NWs by joule heating, while measuring the current through the device. Two different devices are studied: one with platinum metal contacts and one with copper contacts. Different phenomena can occur in CuGe NWs during phase propagation.
Author: Khalil El Hajraoui Publisher: ISBN: Category : Languages : en Pages : 0
Book Description
Semiconductor nanowires (NWs) are promising candidates for many device applications ranging from electronics and optoelectronics to energy conversion and spintronics. However, typical NW devices are fabricated using electron beam lithography and therefore source, drain and channel length still depend on the spatial resolution of the lithography. In this work we show fabrication of NW devices in a transmission electron microscope (TEM) where we can obtain atomic resolution on the channel length using in-situ propagation of a metallic phase in the semiconducting NW independent of the lithography resolution. We show results on semiconducting NW devices fabricated on two different electron transparent Si3N4 membranes: a planar membrane and a membrane where devices are suspended over holes. First we show the process of making lithographically defined reliable electrical contacts on individual NWs. Second we show first results on in-situ propagation of a metal-semiconductor phase in Ge NWs by joule heating, while measuring the current through the device. Two different devices are studied: one with platinum metal contacts and one with copper contacts. Different phenomena can occur in CuGe NWs during phase propagation.
Book Description
Ce travail porte sur l'étude, l'implémentation et le développement de la Microscopie de Lorentz, appliquée à l'observation de films minces magnétiques à anisotropie perpendiculaire (Fer-Palladium) et aux nanostructures auto-assemblées (Fer et Cobalt) à fermeture de flux. Une présentation exhaustive de tous les différents modes de l'imagerie magnétique dans un Microscope Electronique en Transmission (MET) est réalisée en comparaison avec d'autres techniques de caractérisation magnétique par l'image. Il est notamment présenté ici comment cette microscopie peut être implémentée sur un microscope conventionnel et les divers modes de celle-ci sont comparés par la simulation. La Microscopie de Lorentz permet une analyse à la fois locale et quantitative de la distribution de l'induction magnétique dans et autour des matériaux. Dans le même temps, il est possible d'effectuer des études sous l'application d'un champ magnétique pour déterminer l'évolution de la configuration micromagnétique de la matière. Les alliages Fer-Palladium sont ainsi entièrement caractérisés sous différentes géométries par les méthodes de Differential Phase Contrast, résolution de l'équation de Transport d'Intensité et Holographie électronique. L'étude in-situ permet notamment de caractériser et de suivre des défauts magnétiques : les lignes de Bloch verticales. L'étude de nanostructures (plots de Cobalt et plots de Fer) permet quant à elle de de manipuler les différents degrés de libertés magnétiques de systèmes 3D nanostructurés. Il est notamment proposé d'observer des phénomènes de transition entre divers objets du micromagnétisme (vortex, parois de domaines symétriques et asymétriques) ainsi qu'une sélection des degrés de liberté du système par l'application d'un champ.
Author: François Brisset Publisher: EDP Sciences ISBN: 2759803481 Category : Science Languages : fr Pages : 930
Book Description
Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Author: Pierre Haymann Publisher: Publication Univ Rouen Havre ISBN: Category : Social Science Languages : fr Pages : 156
Book Description
Ce livre est destiné à tous les chercheurs, qu'ils soient universitaires ou industriels, désireux de se mettre au courant des problèmes actuels posés en microscopie électronique, soit comme utilisateurs éventuels, soit comme lecteurs d'ouvrages spécia¬lisés utilisant le microscope électronique comme outil de travail. Dans ce but, un soin particulier a été apporté aux notations et le choix bibliographique permet une référence aux principaux articles.
Book Description
Le travail présenté dans ce manuscrit a montré l'importance du développement méthodologique et technique pour identifier et débloquer les verrous empêchant l'analyse de matériaux hybrides et complexes qui se dégradent sous irradiation par un faisceau d'électrons. Nous avons mis en évidence que des dégâts sur l'échantillon produits par les électrons n'apparaissent qu'au-dessus d'un certain seuil de densité de courant électronique qui dépend de la nature du matériau et de ses caractéristiques morphologiques et structurales. Ces développements couplés à la Cryo-EM, nous ont permis de mettre en évidence l'architecture des matériaux hybrides à base de carbone, la variation de la distance lamellaire dans une pérovskite en fonction de la molécule insérée et le positionnement du métal, d'identifier les interactions à l'interface entre deux cristaux moléculaires et la quantification 3D de la fonctionnalisation d'un MOF. Dans la dernière partie, nous avons mis en évidence les processus de nucléation et de croissance d'oxyde de fer par MET in-situ en phase liquide.
Author: Jeanne Ayache Publisher: PU Saint-Etienne ISBN: 9782862724423 Category : Transmission electron microscopy Languages : fr Pages : 399
Book Description
Cet ouvrage s'adresse à une large communauté scientifique qui utilise la microscopie électronique en transmission (TEM) pour analyser la structure de tout type de matériaux de la Physique à la Biologie. Il est constitué de deux livres: Tome 1 " Méthodologie " et Tome 2 " Techniques ". Le tome 2 contient la description de 14 techniques de préparations préalables et/ou complémentaires ainsi que 21 techniques de préparation de lame mince pour leur observation en TEM. Les textes comportent les principes de la technique, les conditions expérimentales de réalisation, les modes opératoires détaillés, les variantes possibles de la préparation, les avantages, les inconvénients, et le ou les types d'artéfact caractéristiques de la technique qui sont observés au TEM. On y trouve aussi le ou les domaines courants d'application de la technique, les types de matériaux préparés, leur conditionnement, les techniques d'analyses possibles à l'issue de chaque préparation, et les risques encourus lors de la préparation. Les deux tomes sont liés et complémentaires avec le site Internet interactif http://temsamprep.in2p3.fr
Author: Khalil El Hajraoui
Author: Khalil El Hajraoui
Author: 
Author: Aurélien Masseboeuf
Author: 
Author: François Brisset
Author: Pierre Haymann
Author: Karlík
Author: Dris Ihiawakrim
Author: Jeanne Ayache
Author: Karlík