ETUDE THEORIQUE ET EXPERIMENTALE DE LA FORMATION DE L'IMAGE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE PAR TRANSMISSION PDF Download
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CALCUL DE LA FORME ET DE LA TAILLE DE LA SONDE D'ELECTRONS INCIDENTS SUR LE SPECIMEN. ETUDE DE L'INTERACTION AVEC L'ECHANTILLON ET ROLE DES DIVERS DETECTEURS. RESOLUTION SPATIALE, CONTRASTE ET RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT
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CALCUL DE LA FORME ET DE LA TAILLE DE LA SONDE D'ELECTRONS INCIDENTS SUR LE SPECIMEN. ETUDE DE L'INTERACTION AVEC L'ECHANTILLON ET ROLE DES DIVERS DETECTEURS. RESOLUTION SPATIALE, CONTRASTE ET RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT
Author: Publisher: Academic Press ISBN: 0080577628 Category : Science Languages : en Pages : 919
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As a complement to The Beginnings of Electron Microscopy, Advances in Imaging and Electron Physics is pleased to present Volume 96, The Growth of Electron Microscopy. This comprehensive collection of articles surveys the accomplishments of various national groups that comprise the International Federation of Societies of Electron Microscopy (IFSEM).
Author: David Cherns Publisher: Springer Science & Business Media ISBN: 1461305276 Category : Medical Languages : en Pages : 413
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The last few years have ~een rapid improvements in semiconductor growth techniques which have produced an expanding range of high quality heterostructures for new semiconductor devises. As the dimensions of such structures approach the nanometer level, it becomes increasingly important to characterise materials properties such as composition uniformity, strain, interface sharpness and roughness and the nature of defects, as well as their influence on electrical and optical properties. Much of this information is being obtained by electron microscopy and this is also an area of rapid progress. There have been advances for thin film studies across a wide range of techniques, including, for example, convergent beam electron diffraction, X-ray and electron energy loss microanalysis and high spatial resolution cathodoluminescence as well as by conventional and high resolution methods. Important develop ments have also occurred in the study of surfaces and film growth phenomena by both microscopy and diffraction techniques. With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors. This was subsequently accepted for the 1988 programme and became the "NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy". The Workshop took place in the pleasant and intimate surroundings of Wills Hall, Bristol, UK, during the week 11-17 September 1988 and was attended by fifty-five participants from fourteen countries.
Author: François Brisset Publisher: EDP Sciences ISBN: 2759803481 Category : Science Languages : fr Pages : 930
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Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
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L'IMAGE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EST UN PARAMETRE TRES IMPORTANT POUR L'ANALYSE DE MATERIAUX. NOUS PROPOSONS DANS CE TRAVAIL D'AMELIORER LA QUALITE DES IMAGES TOUT EN OBTENANT DES TEMPS D'ACQUISITION RELATIVEMENT FAIBLES. CECI EST FAIT EN ADAPTANT LA VITESSE DE BALAYAGE AU RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT ESTIME SUR CHAQUE LIGNE DE L'IMAGE. LA PREMIERE PARTIE DU MEMOIRE EST CONSACREE A L'ETUDE SUCCINCTE DU MINI MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE TRANSPORTABLE, TRAVAILLANT IN SITU SUR OBJETS MASSIFS. NOUS PRESENTONS ENSUITE UNE PREMIERE CARTE D'ACQUISITION D'IMAGES OU UNE PREMIERE APPROCHE DE L'ACQUISITION ADAPTATIVE EST PROPOSEE. LE CHAPITRE SUIVANT EST CONSACRE A L'ETUDE THEORIQUE ET EXPERIMENTALE DU RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT EN FONCTION DE LA FREQUENCE DE BALAYAGE. DANS LE QUATRIEME CHAPITRE, NOUS PRESENTONS LE SYSTEME D'ACQUISITION ADAPTATIVE DES IMAGES REALISEES. LA DERNIERE PARTIE DU MEMOIRE ANALYSE LES DIFFERENTS RESULTATS OBTENUS. DES IMAGES REALISEES A PARTIR D'ELECTRONS RETRODIFFUSES ET D'ONDES ACOUSTIQUES SERONT ALORS PRESENTEES
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CE MEMOIRE MONTRE COMMENT ON TIENT COMPTE DE L'INFLUENCE DE LA COHERENCE PARTIELLE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A HAUTE-RESOLUTION (COHERENCE SPATIALE DUE A L'ETENDUE DE LA SOURCE; COHERENCE TEMPORELLE LIEE AUX INSTABILITES DU SYSTEME D'IMAGERIE). APRES UNE REFLEXION EN OPTIQUE ONDULATOIRE CONDUISANT A LA NOTION DE SOURCE EFFECTIVE, LE SUJET EST ETUDIE, ICI, D'ABORD DANS LE CADRE DE LA THEORIE LINEAIRE DE LA FORMATION D'IMAGE. UNE NOUVELLE APPROCHE THEORIQUE EST PRESENTEE. CETTE ETUDE PERMET DE MIEUX COMPRENDRE LES CARACTERISTIQUES DE TRANSFERT DE LA LENTILLE OBJECTIF, LAQUELLE EST LE COEUR DU MICROSCOPE ELECTRONIQUE A HAUTE-RESOLUTION. ENSUITE, LE CAS DES IMAGES DE CRISTAUX ("LATTICE IMAGES") POUR LEQUEL LA THEORIE LINEAIRE N'EST PLUS VALABLE, EST TRAITE A L'AIDE DES CONSIDERATIONS PRECEDENTES ET DE LA THEORIE DYNAMIQUE DE LA DIFFRACTION DES ELECTRONS. DES RESULTATS EXPERIMENTAUX CORRESPONDANT A CES DEUX CLASSES D'IMAGES SONT EGALEMENT ANALYSES
Author: Henri Souchay Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 199
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Dans le contexte actuel de la microscopie à transmission quantitative a haute résolution, ce travail se propose de faire le lien entre les manipulations expérimentales et les analyses quantitatives auxquelles elles peuvent donner lieu. Pour y parvenir, trois éléments sont nécessaires : une théorie de la formation de l'image qui puisse donner lieu à des calculs numériques assez rapides ; un détecteur d'images électroniques performant ; et un outil logiciel permettant l'acquisition et le traitement des images, leur comparaison avec des simulations et les outils de base pour des reconstructions. Les principaux aspects de la formation d'image en haute résolution sont repris dans le premier chapitre, avec des rappels importants, et un calcul de l'image développe jusqu'aux effets non linéaires et la cohérence partielle pour des défauts cristallins. Dans le second chapitre, après un état de l'art des capteurs d'images électroniques, la propagation est décrite en détail, notamment les effets de l'étalement du signal sur sa variance. Le résultat montre que le bruit crée par la double scintillation était jusque-là sous-estime. Le développement d'une caméra, associe à ce travail, permet de présenter les méthodes de caractérisation de ce type de capteur, en insistant sur la distinction entre le transfert du bruit et du signal. Enfin, le dernier chapitre présente un cahier des charges pour le logiciel et explicite certains des algorithmes utilises, avant de proposer quelques applications : corrections du transfert dans la camera, alignement d'images, et application de la méthode des phases géométriques
Author: CLAUDIE.. PRUNIER MORY
Author: CLAUDIE.. PRUNIER MORY
Author: 
Author: David Cherns
Author: François Brisset
Author: Nabil Boughanmi
Author: Nicolas Fedoroff
Author: Minoru Tanaka
Author: Henri Souchay
Author: Centre national de la recherche scientifique
Author: Paul-Dominique Vincensini (auteur d'une thèse en physique).)