Author: François Brisset
Publisher: EDP Sciences
ISBN: 2759803481
Category : Science
Languages : fr
Pages : 930
Book Description
Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Microscopie électronique à balayage et microanalyses
Author: François Brisset
Publisher: EDP Sciences
ISBN: 2759803481
Category : Science
Languages : fr
Pages : 930
Book Description
Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Publisher: EDP Sciences
ISBN: 2759803481
Category : Science
Languages : fr
Pages : 930
Book Description
Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
La microstructure des aciers et des fontes
Author: Madeleine Durand-Charre
Publisher: EDP Sciences
ISBN: 2759808335
Category : Science
Languages : fr
Pages : 440
Book Description
L'élaboration et la mise en œuvre des aciers et des fontes continuent de poser des défis à la métallurgie. Grâce à l'apport technologique de la microscopie électronique, elle peut être explorée dans ses moindres détails. L'interprétation d'une micrographie requiert une large culture métallurgique car souvent de nombreuses transforma...
Publisher: EDP Sciences
ISBN: 2759808335
Category : Science
Languages : fr
Pages : 440
Book Description
L'élaboration et la mise en œuvre des aciers et des fontes continuent de poser des défis à la métallurgie. Grâce à l'apport technologique de la microscopie électronique, elle peut être explorée dans ses moindres détails. L'interprétation d'une micrographie requiert une large culture métallurgique car souvent de nombreuses transforma...
Study of Processing and Microstructure of a Superplastic 5083 Aluminum Alloy
Author: Tracy A. Maestas
Publisher:
ISBN: 9781423506867
Category :
Languages : en
Pages : 77
Book Description
Orientation Imaging Microscopy (OIM) methods were applied to the analysis of the microstructure and microtexture as well as the deformation and failure modes of superplastic AA5083 aluminum alloys. Annealing of a cold-rolled AA5083 material at 450 deg C resulted in the formation of equiaxed grains approximately 7mum-8mum in size. Random grain-to-grain misorientations were consistent with particle-stimulated nucleation of recrystallization during processing for superplasticity. Such as microstructure is necessary for superplasticity but mechanical property data indicated only moderate ductility and failure by cavity formation and linkage. This investigation then employed OIM methods to identify the misorientations of boundaries prone to cavitation and determine the role of such boundaries in failure of these materials during elevated temperature deformation.
Publisher:
ISBN: 9781423506867
Category :
Languages : en
Pages : 77
Book Description
Orientation Imaging Microscopy (OIM) methods were applied to the analysis of the microstructure and microtexture as well as the deformation and failure modes of superplastic AA5083 aluminum alloys. Annealing of a cold-rolled AA5083 material at 450 deg C resulted in the formation of equiaxed grains approximately 7mum-8mum in size. Random grain-to-grain misorientations were consistent with particle-stimulated nucleation of recrystallization during processing for superplasticity. Such as microstructure is necessary for superplasticity but mechanical property data indicated only moderate ductility and failure by cavity formation and linkage. This investigation then employed OIM methods to identify the misorientations of boundaries prone to cavitation and determine the role of such boundaries in failure of these materials during elevated temperature deformation.
Bulletin signalétique
Author: Centre national de la recherche scientifique (France). Centre de documentation
Publisher:
ISBN:
Category : Diffraction
Languages : fr
Pages : 846
Book Description
Publisher:
ISBN:
Category : Diffraction
Languages : fr
Pages : 846
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