ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS PDF Download

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ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS

ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS PDF Author: Roland Coratger (physicien)
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Book Description
DEUX PROTOTYPES DE MICROSCOPES A EFFET TUNNEL ONT ETE MIS AU POINT POUR OBTENIR LA RESOLUTION ATOMIQUE AVEC UNE BONNE REPRODUCTIBILITE. L'ANALYSE DES IMAGES EST REALISEE GRACE A UN TRAITEMENT D'IMAGE SPECIFIQUE. LES DIVERSES ETUDES THEORIQUES EFFECTUEES PERMETTENT DE RELIER LES IMAGES OBTENUES A LA STRUCTURE ELECTRONIQUE DES MATERIAUX OBSERVES. DANS LE CAS DE SURFACES DE GRAPHITE ET DE MOLYBDENITE, CETTE PROPRIETE CONDUIT A DES RESULTATS TRES CARACTERISTIQUES: LES IMAGES REPRESENTENT UNE CARTOGRAPHIE DE LA DENSITE ELECTRONIQUE DE SURFACE. DE NOMBREUX ECARTS A CE MODELE THEORIQUE SONT TOUTEFOIS OBSERVABLES. ILS SONT ALORS LIES SOIT A LA FORME ATOMIQUE DE LA POINTE, SOIT A LA FORCE D'INTERACTION ENTRE LA POINTE ET LA SURFACE. LA DEFORMATION SIGNIFICATIVE DES SURFACES OBSERVEES JUSTIFIE L'AMPLITUDE DE LA CORRUGATION EXPERIMENTALE. LES EFFETS D'UN BOMBARDEMENT IONIQUE SUR CES MEMES SURFACES DE GRAPHITE SE TRADUISENT PAR L'APPARITION DE PROTUBERANCES LIEES AUX CONTRAINTES LORS DU DEVELOPPEMENT DE LA CASCADE. DE NOMBREUX DEFAUTS REVELENT EGALEMENT DES CHANGEMENTS DE STRUCTURE A L'ECHELLE ATOMIQUE INDUITS PAR DES PHENOMENES DE TREMPE LOCALE DU SUBSTRAT. CES PHENOMENES REMETTENT EN CAUSE LES MECANISMES CLASSIQUES D'INTERACTION ION-SUBSTRAT A CETTE ECHELLE. LA MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL A ETE EGALEMENT UTILISEE DANS UN GRAND NOMBRE D'APPLICATIONS. L'OBSERVATION DE MOLECULES D'ADN EST UNE DE CES APPLICATIONS ET A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE LES EFFETS DE LA FIXATION D'UNE PROTEINE NON SEULEMENT SUR L'ORGANISATION DES MOLECULES ENTRE ELLES MAIS AUSSI SUR LA TAILLE DES MOLECULES ISOLEES

ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS

ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DE SURFACES DE GRAPHITE IMPLANTE ET AUTRES APPLICATIONS PDF Author: Roland Coratger (physicien)
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DEUX PROTOTYPES DE MICROSCOPES A EFFET TUNNEL ONT ETE MIS AU POINT POUR OBTENIR LA RESOLUTION ATOMIQUE AVEC UNE BONNE REPRODUCTIBILITE. L'ANALYSE DES IMAGES EST REALISEE GRACE A UN TRAITEMENT D'IMAGE SPECIFIQUE. LES DIVERSES ETUDES THEORIQUES EFFECTUEES PERMETTENT DE RELIER LES IMAGES OBTENUES A LA STRUCTURE ELECTRONIQUE DES MATERIAUX OBSERVES. DANS LE CAS DE SURFACES DE GRAPHITE ET DE MOLYBDENITE, CETTE PROPRIETE CONDUIT A DES RESULTATS TRES CARACTERISTIQUES: LES IMAGES REPRESENTENT UNE CARTOGRAPHIE DE LA DENSITE ELECTRONIQUE DE SURFACE. DE NOMBREUX ECARTS A CE MODELE THEORIQUE SONT TOUTEFOIS OBSERVABLES. ILS SONT ALORS LIES SOIT A LA FORME ATOMIQUE DE LA POINTE, SOIT A LA FORCE D'INTERACTION ENTRE LA POINTE ET LA SURFACE. LA DEFORMATION SIGNIFICATIVE DES SURFACES OBSERVEES JUSTIFIE L'AMPLITUDE DE LA CORRUGATION EXPERIMENTALE. LES EFFETS D'UN BOMBARDEMENT IONIQUE SUR CES MEMES SURFACES DE GRAPHITE SE TRADUISENT PAR L'APPARITION DE PROTUBERANCES LIEES AUX CONTRAINTES LORS DU DEVELOPPEMENT DE LA CASCADE. DE NOMBREUX DEFAUTS REVELENT EGALEMENT DES CHANGEMENTS DE STRUCTURE A L'ECHELLE ATOMIQUE INDUITS PAR DES PHENOMENES DE TREMPE LOCALE DU SUBSTRAT. CES PHENOMENES REMETTENT EN CAUSE LES MECANISMES CLASSIQUES D'INTERACTION ION-SUBSTRAT A CETTE ECHELLE. LA MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL A ETE EGALEMENT UTILISEE DANS UN GRAND NOMBRE D'APPLICATIONS. L'OBSERVATION DE MOLECULES D'ADN EST UNE DE CES APPLICATIONS ET A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE LES EFFETS DE LA FIXATION D'UNE PROTEINE NON SEULEMENT SUR L'ORGANISATION DES MOLECULES ENTRE ELLES MAIS AUSSI SUR LA TAILLE DES MOLECULES ISOLEES

ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DES DOMMAGES CREES PAR IMPACTS IONIQUES A LA SURFACE DU GRAPHITE

ETUDE PAR MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL DES DOMMAGES CREES PAR IMPACTS IONIQUES A LA SURFACE DU GRAPHITE PDF Author: CATHERINE.. HENRY DE VILLENEUVE DEBARD
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Languages : fr
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Book Description
LE BOMBARDEMENT IONIQUE EST UTILISE DANS LE CADRE DE NOMBREUSES APPLICATIONS TECHNOLOGIQUES. LE DEVELOPPEMENT D'UNE RUGOSITE A LA SURFACE DES MATERIAUX BOMBARDES EST UN PHENOMENE LARGEMENT MIS EN EVIDENCE. LES ORIGINES DE CETTE RUGOSITE NE SONT PAS TRES BIEN CONNUES NOTAMMENT FAUTE DE MOYENS DE CARACTERISATION POSSEDANT UNE RESOLUTION SUFFISANTE POUR ETUDIER LES PREMIERES ETAPES DE LA DEFORMATION DE SURFACE: LES DOMMAGES CREES PAR L'IMPACT D'UN ION. UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL MIS AU POINT AU LABORATOIRE ET FONCTIONNANT A L'AIR, A ETE UTILISE POUR ETUDIER LES DOMMAGES CREES PAR DES IONS (AR#+, XE#3#+...) D'ENERGIE COMPRISE ENTRE 500 EV ET 150 KEV, A LA SURFACE DU GRAPHITE. L'IMPLANTATION DE DOSES FAIBLES A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE LA TRACE LAISSEE EN SURFACE PAR L'IMPACT D'UN ION. LES IMAGES STM REVELENT QUE CHAQUE ION EST A L'ORIGINE D'UNE DEFORMATION LOCALE DE LA SURFACE. CES DEFAUTS INDIVIDUELS SONT LES PREMISSES DE LA RUGOSITE QUI EST OBSERVEE POUR DES DOSES PLUS ELEVEES. A CE PREMIER STADE, LE PHENOMENE DE PULVERISATION APPARAIT MOINS IMPORTANT QUE LA FORMATION DE DOMMAGES EN VOLUME POUR EXPLIQUER L'APPARITION DE LA RUGOSITE. A HAUTE RESOLUTION, LES IMAGES STM MONTRENT DIFFERENTS TYPES DE DEFAUTS (MODIFICATIONS STRUCTURALE OU ELECTRONIQUES LOCALES, DEFORMATIONS DE PLANS GRAPHITIQUES, DEFAUTS ATOMIQUES...) QUI RESULTENT DE LA CASCADE DE COLLISIONS GENEREE PAR CHAQUE ION. LES RESULTATS STM COUPLES A DES MODELISATIONS DES COLLISIONS DANS LE GRAPHITE (CALCULS TRIM ET DYNAMIQUE MOLECULAIRE) MONTRENT QUE LES DEFAUTS SONT DUS AUX PHENOMENES SE DEROULANT DANS LES PREMIERES COUCHES DE SURFACE ET NOTAMMENT A L'ENDROIT OU A LIEU LA PREMIERE COLLISION

ETUDE DES VARIATIONS DE LA DISTANCE POINTE-SURFACE DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL. APPLICATION A UNE NOUVELLE IMAGERIE DE SURFACE

ETUDE DES VARIATIONS DE LA DISTANCE POINTE-SURFACE DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL. APPLICATION A UNE NOUVELLE IMAGERIE DE SURFACE PDF Author: GREGORY.. SEINE
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Languages : fr
Pages : 182

Book Description
UNE ETUDE THEORIQUE ET EXPERIMENTALE DES VARIATIONS DE LA DISTANCE POINTE-SURFACE S DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL EN FONCTION DE LA TENSION DE POLARISATION V A COURANT TUNNEL I CONSTANT EST PROPOSEE. APRES UNE REVUE DE DIFFERENTS MODELES DU COURANT TUNNEL, UNE EXTENSION A TROIS DIMENSIONS DU MODELE DE SIMMONS EST REALISEE EN MODELISANT LA POINTE PAR UN HYPERBOLOIDE DE REVOLUTION. LES RESULTATS EXPERIMENTAUX ONT ETE OBTENUS DANS L'AIR ET L'ULTRAVIDE, AVEC DES POINTES EN OR SUR DE SURFACES D'OR ET DE GRAPHITE. LES CARACTERISTIQUES S(V) A I CONSTANT PRESENTENT UN ASPECT GENERAL LOGARITHMIQUE. DANS TOUS LES MILIEUX, DES DISPERSIONS EN AMPLITUDES EN FONCTION DE LA POINTE UTILISEE ET DE LA ZONE OBSERVEE ONT ETE OBSERVEES. LA CONTAMINATION DES ELECTRODES MODIFIE FORTEMENT L'ASPECT QUANTITATIF DES EXPERIENCES. LA COMPARAISON THEORIE-EXPERIENCE MONTRE QUE LE MEILLEUR ACCORD EST OBTENU ENTRE NOTRE MODIFICATION DU MODELE DE SIMMONS ET LES EXPERIENCES SOUS ULTRAVIDE AVEC DES POINTES NETTOYEES. A L'AIR, AUCUN MODELE NE DECRIT LES RESULTATS OBTENUS. L'INTERPRETATION FAIT APPEL AUX DEFORMATIONS ELASTIQUES DE LA JONCTION TUNNEL CREEES PAR L'INTERACTION MECANIQUE POINTE-SURFACE VEHICULEE PAR LA COUCHE DE CONTAMINATION. ELLE PERMET D'INTRODUIRE UN PARAMETRE PHENOMENOLOGIQUE, DEFINI COMME LE RAPPORT DE L'AMPLITUDE EXPERIMENTALE SUR L'AMPLITUDE THEORIQUE, DANS NOTRE MODELE. CE PARAMETRE PERMET D'OBTENIR UNE EXCELLENTE DESCRIPTION DES RESULTATS EXPERIMENTAUX, MEME A L'AIR, PAR LE MODELE. NOUS PRESENTONS ENFIN LES DEBUTS DE L'IMAGERIE EN AMPLITUDE. LES CONTRASTES OBTENUS SONT LIES A LA HAUTEUR LOCALE APPARENTE DE BARRIERE TUNNEL. L'ETUDE SUR DE L'OR POLYCRISTALLIN MONTRE QUE L'IMAGERIE EST SENSIBLE A L'ORIENTATION CRISTALLOGRAPHIQUE DE LA SURFACE. L'ETUDE SUR DU GRAPHITE MONTRE QUE LES AMPLITUDES VARIENT A L'ECHELLE ATOMIQUE ET DEPENDENT DES DEFORMATIONS ELASTIQUES AU NIVEAU DES SITES ATOMIQUES. L'ETUDE SUR DE L'OR MONOCRISTALLIN A CONFIRME LA POSSIBILITE DE CREER DES PERTURBATIONS DE SURFACE STABLES DANS LE TEMPS PUIS D'INITIER LA RECONSTRUCTION DES SURFACES. L'IMAGERIE S'EST AVEREE TRES SENSIBLE AUX PERTURBATIONS ENGENDREES.

MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL

MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL PDF Author: SYLVIE.. ROUSSET
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Languages : fr
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Book Description
ON DEVELOPPE UN MODELE D'ELECTRONS LIBRES QUI MONTRE COMMENT CERTAINS DEFAUTS SUR LA SURFACE (DEFAUT GAUSSIEN, MARCHE) APPARAISSENT SUR L'IMAGE TUNNEL. INFLUENCE DU PROFIL DE LA POINTE SUR LES IMAGES TUNNEL. ETUDE EXPERIMENTALE DU GRAPHITE ET DE SES COMPOSES D'INSERTION. ETUDE DE L'ADSORPTION DU SOUFRE SUR LES FACES RICINALES (11, 1, 1) ET (8, 1, 0) DU CUIVRE (100) POUR UN TAUX DE RECOUVREMENT DE 0,25

Microscopie par effet tunnel et application à l'étude de surfaces ordonnées de silicium (111)

Microscopie par effet tunnel et application à l'étude de surfaces ordonnées de silicium (111) PDF Author: Franck Thibaudau
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Languages : fr
Pages : 1

Book Description
LA MICROSCOPIE PAR EFFET TUNNEL FOURNIT UNE TECHNIQUE D'ETUDE LOCALE DES SURFACES A L'ECHELLE ATOMIQUE. PREMIERE PARTIE: EXPOSE DES PRINCIPALES INFORMATIONS QUE PEUT EN TRIER LE PHYSICIER. DEUXIEME PARTIE: RESULTATS CONCERNANT LES DIFFERENTES INTERFACES DE SI(111): AU/SI, B/SI ET SN/SI. DANS LE CAS DE AU/SI(111), BON ACCORD AVEC LES MODELES STRUCTURAUX RECEMMENT PROPOSES. L'EXODIFFUSION DU BORE AVEC DES ECHANTILLONS FORTEMENT DOPES EST UNE PARTIE IMPORTANTE DE CE TRAVAIL. OBTENTION D'UN MODELE DE STRUCTURE A PARTIR DE RENSEIGNEMENTS SPECTROSCOPIQUES SUR LA SURSTRUCTURE OBSERVEE. L'ETUDE PRELIMINAIRE DANS LE CAS DE SN CONFIRME LE MODELE T4 POUR LES SITES D'ABSORPTION DES ELEMENTS DU GROUPE IV

Simulations de microscopie à effet tunnel

Simulations de microscopie à effet tunnel PDF Author: Mathieu Dubois
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Languages : fr
Pages : 192

Book Description
Ce travail se situe dans le cadre général des nanotechnologies. Après avoir présenté les enjeux et les challenges dans ce nouveau domaine, nous présentons le microscope à effet tunnel (STM) et nous montrons les possibilités offertes par cet outil pour les nanotechnologies. Largement utilisé pour l'étude des surfaces ainsi que pour celle de l'adsorption de molécules organiques, les résultats expérimentaux ne sont pas toujours suffisants pour comprendre parfaitement les phénomènes mis en jeu. Cette thèse propose donc une modélisation du courant tunnel permettant ainsi la simulation d'images et de courbes de spectroscopie obtenues en STM. Le courant est obtenu dans un formalisme de diffusion utilisant les fonctions de Green. L'ensemble des calculs des structures électroniques est effectué dans le cadre de l'approximation des liaisons fortes. Les perturbations électroniques à l'intérieur de la molécule. (interactions électron-électron) seront décrites à l'aide d'une théorie dérivée de la théorie orthodoxe.

Etude d'électrons balistiques en microscopie à effet tunnel et autres applications en microscopie à champ proche

Etude d'électrons balistiques en microscopie à effet tunnel et autres applications en microscopie à champ proche PDF Author: Adil Chahboun
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Languages : fr
Pages : 292

Book Description
QUAND UN METAL VIENT AU CONTACT D'UN SEMI-CONDUCTEUR, IL Y A FORMATION D'UNE BARRIERE DE POTENTIEL APPELEE LA BARRIERE DE SCHOTTKY. CETTE BARRIERE ENERGETIQUE JOUE UN ROLE IMPORTANT SUR LES PERFORMANCES DES INSTRUMENTS A BASE DE SEMI-CONDUCTEUR. UNE MANIPULATION DERIVEE DE LA MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL (BEEM) PERMET LA MESURE DE LA HAUTEUR DE CETTE BARRIERE AVEC UNE RESOLUTION NANOMETRIQUE. DURANT CETTE THESE, NOUS AVONS REALISE CETTE MANIPULATION ET AVONS APPLIQUE A L'ETUDE D'UNE JONCTION AU/SI. DES PHENOMENES ORIGINAUX ONT ETE OBSERVES, TELLE LA SATURATION DU SPECTRE BEEM A FORTES TENSIONS DE POLARISATION TUNNEL, LA DEPENDANCE DE LA GEOMETRIE D'INJECTION ELECTRONIQUE DE LA CRISTALLOGRAPHIE DU FILM METALLIQUE. L'ETUDE DE MEMBRANES D'ULTRAFILTRATION PAR STM, AFM ET SEM A MONTRE QUE LE STM ET L'AFM PEUVENT ETRE CONSIDERES COMME DEUX OUTILS EFFICACES POUR LA CARACTERISATION DE CES MATERIAUX. LES EFFETS DE LA POINTE SUR LA REPRODUCTION DE SURFACES RUGUEUSES ONT ETE MISES EN EVIDENCE. L'OBSERVATION DE MICROTUBULES PAR STM A PERMIS DE DECELER UNE EVENTUELLE SOUS-STRUCTURE DE LA TUBULINE, MOLECULE UNITE DES MICROTUBULES

EMISSION PHOTONIQUE DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL. APPLICATION A L'ETUDE DE NANO-CONTACTS METAL/SEMICONDUCTEUR

EMISSION PHOTONIQUE DANS UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL. APPLICATION A L'ETUDE DE NANO-CONTACTS METAL/SEMICONDUCTEUR PDF Author: ANNE.. CARLADOUS
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Languages : fr
Pages : 226

Book Description
LA JONCTION POINTE-SURFACE D'UN MICROSCOPE A EFFET TUNNEL (STM) EST, DE PART SA GEOMETRIE SINGULIERE, LE SIEGE D'UN GRAND NOMBRE DE PHENOMENES PHYSIQUES ELEMENTAIRES QUI ELARGISSENT LE DOMAINE D'APPLICATION DE CE DISPOSITIF. DEPUIS QUELQUES ANNEES, PLUSIEURS TECHNIQUES EXPERIMENTALES DERIVEES ONT VU LE JOUR AUTOUR DU STM ET FONT DE CET OUTIL DE CARACTERISATION UN SUJET DE RECHERCHE FONDAMENTALE. NOUS AVONS AINSI MENE UNE ETUDE DES DIFFERENTS PROCESSUS RADIATIFS POUVANT AVOIR LIEU AU SEIN DE LA JONCTION TUNNEL D'UN STM DANS L'AIR. TOUT D'ABORD, UNE EMISSION DE PHOTONS A ETE DETECTEE SUR DES SURFACES SEMICONDUCTRICES D'ARSENIURE DE GALLIUM PASSIVEES A L'HUILE DE PARAFFINE. LES SPECTRES DE LA LUMIERE EMISE PERMETTENT D'IDENTIFIER CLAIREMENT L'EMISSION PHOTONIQUE OBSERVEE : ELLE PROVIENT DE RECOMBINAISONS RADIATIVES DE PAIRES ELECTRON-TROU DANS LE SEMICONDUCTEUR MASSIF. UNE EMISSION DE PHOTONS DANS UN STM A AUSSI ETE DETECTEE DANS L'AIR SUR DES SURFACES D'AU. PAR COMPARAISON AVEC LES RESULTATS PRECEDENTS OBTENUS SOUS ULTRA VIDE (UHV) ET LES RECENTES AVANCEES THEORIQUES, CETTE EMISSION DE LUMIERE A ETE ATTRIBUEE A LA DESEXCITATION RADIATIVE DE PLASMONS LOCALISES ENTRE LA POINTE ET LA SURFACE, CES MODES ETANT EXCITES PAR LES ELECTRONS TUNNELS INELASTIQUES. DES MOLECULES D'ALCANETHIOLS AINSI QUE DES NANOTUBES DE CARBONE ONT ETE DEPOSES SUR CES SURFACES METALLIQUES. UNE EMISSION LUMINEUSE A ALORS ETE OBSERVEE. LE ROLE DES MOLECULES ET DES NANO-OBJETS DANS L'EMISSION LUMINEUSE A ENSUITE ETE DISCUTE. ENFIN, PAR UN PROCESSUS DE CROISSANCE DE TYPE VOLMER-WEBER, DES ILOTS D'OR TRIDIMENSIONNELS ONT ETE FABRIQUES PAR DEPOT DE FILMS MINCES METALLIQUES SUR UN SUBSTRAT DE MOLYBDENITE. DES PROPRIETES SURPRENANTES DE L'EMISSION PHOTONIQUE ONT ALORS ETE MISES EN EVIDENCE SUR CES ECHANTILLONS OUVRANT LA VOIE A UNE NOUVELLE APPLICATION DE L'EMISSION DE PHOTONS DANS UN STM. PAR L'INTERMEDIAIRE DE L'ANALYSE SPECTRALE DE LA LUMIERE EMISE, IL EST POSSIBLE D'ACCEDER A LA CARACTERISTIQUE COURANT-TENSION DE L'INTERFACE AU/MOS 2. DES DIFFERENCES DANS LA NATURE DU CONTACT METAL/SEMICONDUCTEUR SONT ALORS APPARUES ENTRE PLUSIEURS ECHANTILLONS : UNE RESISTANCE A L'INTERFACE AU/MOS 2 A ETE MISE EN EVIDENCE AINSI QU'UNE DIODE SCHOTTKY.

Application of Particle and Laser Beams in Materials Technology

Application of Particle and Laser Beams in Materials Technology PDF Author: P. Misaelides
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 9780792333241
Category : Science
Languages : en
Pages : 702

Book Description
The development of advanced materials with preselected properties is one of the main goals of materials research. Of especial interest are electronics, high-temperature and superhard materials for various applications, as well as alloys with improved wear, corrosion and mechanical resistance properties. The technical challenge connected with the production of these materials is not only associated with the development of new specialised preparation techniques but also with quality control. The energetic charged particle, electron and photon beams offer the possibility of modifying the properties of the near-surface regions of materials without seriously affecting their bulk, and provide unique analytical tools for testing their quality. Application of Particle and Laser Beams in Materials Technology provides an overview of this rapidly expanding field. Fundamental aspects concerning the interactions and collisions on atomic, nuclear and solid state scale are presented in a didactic way, along with the application of a variety of techniques for the solution of problems ranging from the development of electronics materials to corrosion research and from archaeometry to environmental protection. The book is divided into six thematic units: Fundamentals, Surface Analysis Techniques, Laser Beams in Materials Technology, Accelerator-Based Techniques in Materials Technology, Materials Modification and Synchrotron Radiation.

Organic Solid-State Lasers

Organic Solid-State Lasers PDF Author: Sébastien Forget
Publisher: Springer
ISBN: 3642367054
Category : Science
Languages : en
Pages : 179

Book Description
Organic lasers are broadly tunable coherent sources, potentially compact, convenient and manufactured at low-costs. Appeared in the mid 60’s as solid-state alternatives for liquid dye lasers, they recently gained a new dimension after the demonstration of organic semiconductor lasers in the 90's. More recently, new perspectives appeared at the nanoscale, with organic polariton and surface plasmon lasers. After a brief reminder to laser physics, a first chapter exposes what makes organic solid-state organic lasers specific. The laser architectures used in organic lasers are then reviewed, with a state-of-the-art review of the performances of devices with regard to output power, threshold, lifetime, beam quality etc. A survey of the recent trends in the field is given, highlighting the latest developments with a special focus on the challenges remaining for achieving direct electrical pumping of organic semiconductor lasers. A last chapter covers the applications of organic solid-state lasers.