Author: Pierre JeanrotPublisher:
ISBN:
Category : Materials
Languages : fr
Pages : 150
Book Description
De l'exploitation du rayonnement X en microscopie électronique à balayage
Author: Pierre JeanrotPublisher:
ISBN:
Category : Materials
Languages : fr
Pages : 150
Book Description
De l'exploitation du rayonnement en microscopie électronique à balayage'.
Author: P. JeanrotDe l'exploitation du rayonnement x en microscopie électronique à balyage
Author: Pierre JeanrotMicroscopie électronique à balayage et microanalyses
Author: François BrissetPublisher: EDP Sciences
ISBN: 2759803481
Category : Science
Languages : fr
Pages : 930
Book Description
Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Energy Dispersive X-ray Analysis in the Electron Microscope
Author: DC BellPublisher: Garland Science
ISBN: 0203483421
Category : Science
Languages : en
Pages : 160
Book Description
This book provides an in-depth description of x-ray microanalysis in the electron microscope. It is sufficiently detailed to ensure that novices will understand the nuances of high-quality EDX analysis. Includes information about hardware design as well as the physics of x-ray generation, absorption and detection, and most post-detection data processing. Details on electron optics and electron probe formation allow the novice to make sensible adjustments to the electron microscope in order to set up a system which optimises analysis. It also helps the reader determine which microanalytical method is more suitable for their planned application.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Author: Joseph GoldsteinPublisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 1461304911
Category : Science
Languages : en
Pages : 830
Book Description
In the last decade, since the publication of the first edition of Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic SEM and EPMA. High resolution imaging has been developed with the aid of an extensive range of field emission gun (FEG) microscopes. The magnification ranges of these instruments now overlap those of the transmission electron microscope. Low-voltage microscopy using the FEG now allows for the observation of noncoated samples. In addition, advances in the develop ment of x-ray wavelength and energy dispersive spectrometers allow for the measurement of low-energy x-rays, particularly from the light elements (B, C, N, 0). In the area of x-ray microanalysis, great advances have been made, particularly with the "phi rho z" [Ij)(pz)] technique for solid samples, and with other quantitation methods for thin films, particles, rough surfaces, and the light elements. In addition, x-ray imaging has advanced from the conventional technique of "dot mapping" to the method of quantitative compositional imaging. Beyond this, new software has allowed the development of much more meaningful displays for both imaging and quantitative analysis results and the capability for integrating the data to obtain specific information such as precipitate size, chemical analysis in designated areas or along specific directions, and local chemical inhomogeneities.
Geologist's library
Author: Gérard SustracPublisher:
ISBN:
Category : Earth sciences
Languages : en
Pages : 204
Book Description
X-ray Microanalysis in the Electron Microscope
Author: John A. ChandlerPublisher:
ISBN: 9780720442502
Category : Electron microscopes
Languages : en
Pages : 231
Book Description
Mémoires
Author: France. Bureau de recherches géologiques et minièresPublisher:
ISBN:
Category : Geology
Languages : en
Pages : 180
Book Description
Microscopie électronique à balayage et Microanalyses
Author: Jacky RustePublisher:
ISBN: 9782759823222
Category :
Languages : fr
Pages :
Book Description
La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.