Author: Alexandre BracalePublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 206
Book Description
Caractérisation et modélisation des transistors MOS sur substrat SOI pour des applications micro-ondes
Author: Alexandre BracaleCharacterization and Modeling of SOI RF Integrated Components
Author: Morin DehanPublisher: Presses univ. de Louvain
ISBN: 9782930344393
Category : Science
Languages : en
Pages : 238
Book Description
The boom of mobile communications leads to an increasing request of low cost and low power mixed mode integrated circuits. Maturity of SOI technology, and recent progresses of MOSFET's microwave performances, explain the success of silicon as compared to III-V technologies for low-cost multigigahertz analog applications. The design of efficient circuits requires accurate, wide-band models for both active and passive elements. Within this frame, passive and active components fabricated in SOI technologies have been studied. Various topologies of integrated transmission lines, like Coplanar Waveguides or thin film microstrip lines, have been analyzed. Also, a new physical model of integrated inductors has been developed. This model, based on a coupled line analysis of square spiral inductors, is scalable and independent of the technology used. Inductors with various spacing between strips, conductor widths, or number of turns can be simulated on different multi-layered substrates. Each layer that composes the substrate is defined using its electrical properties (permittivity, permeability, conductivity). The performances of integrated sub-micron MOSFETs are analyzed. New alternative structures of transistor (the Graded Channel MOSFET and the Dynamic Threshold MOSFET) are proposed to increase the performances of a CMOS technology for for analog, low power, low voltage, and microwave applications. They are studied from Low to High frequency. The graded channel MOSFET is an asymmetric doped channel MOSFET's which bring solutions for the problems of premature drain break-down, hot carrier effects, and threshold voltage (Vth) roll-off issues in deep submicrometer devices. The GCMOS processing is fully compatible with the conventional SOI MOSFET process flow, with no additional steps needed. The dynamic threshold voltage MOS is a MOS transistor for which the gate and the body channel are tied together. All DTMOS electrical properties can be deduced from standard MOS theory by introducing Vbs = Vgs. The main advantage of DTMOS over conventional MOS is its higher drive current at low bias conditions. To keep the body to source current as low as possible, the body bias voltage must be kept lower than 0.7 V. It seems obvious that the DTMOS transistor is an attractive component for low voltage applications.
Conception, fabrication, caractérisation et modélisation de transistors MOSFET haute tension en technologie avancée SOI (Silicon-On-Insulator)
Author: Antoine LittyPublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 0
Book Description
A l'heure où la miniaturisation des technologies CMOS sur substrat massif atteint des limites, la technologie FDSOI (silicium sur isolant totalement déserté) s'impose comme une alternative pour l'industrie en raison de ses meilleures performances. Dans cette technologie, l'utilisation d'un substrat SOI ultramince améliore le comportement des transistors MOSFETs et garantit leur intégrité électrostatique pour des dimensions en deçà de 28nm. Afin de lui intégrer de nouvelles fonctionnalités, il devient nécessaire de développer des applications dites « haute tension » comme les convertisseurs DC/DC, les régulateurs de tension ou encore les amplificateurs de puissance. Cependant les composants standards de la technologie CMOS ne sont pas capables de fonctionner sous les hautes tensions requises. Pour répondre à cette limitation, ces travaux portent sur le développement et l'étude de transistors MOS haute tension en technologie FDSOI. Plusieurs solutions sont étudiées à l'aide de simulations numériques et de caractérisations électriques : l'hybridation du substrat (gravure localisée de l'oxyde enterré) et la transposition sur le film mince. Une architecture innovante sur SOI, le Dual Gound Plane EDMOS, est alors proposée, caractérisée et modélisée. Cette architecture repose sur la polarisation d'une seconde grille arrière pour offrir un compromis RON.S/BV prometteur pour les applications visées.
Modélisation grand signal de MOSFET en hyperfréquences
Author: Alexandre SiligarisPublisher:
ISBN:
Category :
Languages : en
Pages : 223
Book Description
Les communications sans fil ne cessent d'intégrer la vie quotidienne moderne. Ces applications font partie intégrale du domaine des radiofréquences (RF), et elles se sont développées grâce au progrès des transistors et de leurs performances. Le transistor MOS sur substrat Si est une technologie très prometteuse pour ces applications, car elle présente une faible consommation en puissance, demande de faibles tensions de polarisation et ses performances sont suffisamment élevées. Dans cette thèse, nous avons développé un modèle non linéaire pour les transistors MOS utile pour les applications en hyperfréquences. Le modèle développé reproduit de manière très précise les caractéristiques hyperfréquences des transistors MOS, tant en régime petit signal qu'en régime grand signal. Il tient en compte l'effet kink, présent dans les composants partiellement désertés sur substrat SOI. Le modèle a été validé à travers des mesures grand signal à l'aide d'un analyseur de réseaux vectoriel non linéaire. L'extraction des paramètres du modèle est très rapide son implémentation dans un simulateur de circuits commercial est très simple. A l'aide de ce modèle, de nombreux circuits ont été conçus et réalisés en technologie MOS SOI.
Modélisation de transistors M.O.S. à substrat non uniformément dopé pour des applications analogiques
Author: Olivier DeclerckPublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 216
Book Description
Un outil d'optimisation de modèles et d'extraction de paramètres de transistors MOS a été développé spécifiquement pour des applications analogiques. Il est articulé autour d'un algorithme de minimisation de fonctions non linéaires par la méthode des moindres carrés. Cet outil a facilité le développement et la validation d'un modèle de transistors MOS dont le substrat n'est pas uniformément dopé. L'importance d'une très exacte prise en compte de l'évolution de la tension de seuil en fonction de la polarisation du substrat est mise en évidence. Une méthode de calcul est proposée qui permet sa détermination précise, à partir de la seule donnée du profil de dopage. Le calcul du courant drain statique est basé sur un ajustement précis de la tension de seuil à l'aide d'une fonction empirique universelle. Il est continu dans tous les régimes de fonctionnement et ne nécessite qu'un nombre très restreint de paramètres. Pour la simulation petit signal, l'utilisation d'un modèle approché permet au modèle de garder toute sa simplicité; il utilise une approche quasi statique
Modelisation de transistors M.O.S. a substrat non uniformement dope pour des applications analogiques
Author: Olivier DeclerckCARACTERISATION ET MODELISATION DU FONCTIONNEMENT DES TRANSISTORS MOS ULTRA-SUBMICRONIQUES FABRIQUES SUR FILMS SIMOX TRES MINCES
Author: OLIVIER.. FAYNOTPublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 160
Book Description
CE MEMOIRE EST CONSACRE A LA CARACTERISATION ET A LA MODELISATION DES TRANSISTORS MOS FABRIQUES SUR DES FILMS SIMOX TRES MINCES. DANS LE PREMIER CHAPITRE, OUTRE L'ORIENTATION DE LA MICROELECTRONIQUE, NOUS DETAILLONS L'INTERET POTENTIEL QUE PEUT SUSCITER LA TECHNOLOGIE SOI POUR LES APPLICATIONS BASSE-TENSION. ENSUITE, NOUS ANALYSONS LES PHENOMENES DE COUPLAGE D'INTERFACES APPARAISSANT DANS DEUX TYPES DE CONDUCTION DE TRANSISTORS TOTALEMENT DESERTES: LA CONDUCTION PAR CANAL D'INVERSION ET LA CONDUCTION PAR CANAL D'ACCUMULATION. PUIS, LES EFFETS DE CANAUX COURTS SONT ETUDIES DANS L'OBJECTIF D'OPTIMISER L'ARCHITECTURE DES TRANSISTORS SOI ULTRA-SUBMICRONIQUES. LES PHENOMENES LIES A L'IONISATION PAR IMPACT SONT ENSUITE PRESENTES POUR LES DEUX TYPES DE CONDUCTION. UN PROCEDE SIMPLE DE FABRICATION EST ALORS DECRIT ET LES RESULTATS EXPERIMENTAUX DES TRANSISTORS ET DES CIRCUITS METTENT EN AVANT LES AVANTAGES DU SOI POUR LES APPLICATIONS BASSE-TENSION. LE DERNIER CHAPITRE EST DEDIE A LA CARACTERISATION DES PHENOMENES DE PORTEURS CHAUDS DES TRANSISTORS SOI COMPLETEMENT DESERTES
ETUDE EN HAUTE TEMPERATURE DES TRANSISTORS MOS SUBMICRONIQUES FABRIQUES SUR SILICIUM SUR ISOLANT
Author: GUENTER.. REICHERTPublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 189
Book Description
L'OBJETCTIF DE CETTE THESE EST LA CARACTERISATION ET LA MODELISATION DES TRANSISTORS MOS-SOI COMPLETEMENT DEPLETES DANS LA GAMME DES HAUTES TEMPERATURES (25C - 300C). LE PREMIER CHAPITRE EST UN BREF RAPPEL DES PRINCIPAUX AVANTAGES DE LA TECHNOLOGIE SOI POUR DES APPLICATIONS HAUTES TEMPERATURES. UNE RELATION ENTRE LES MODELES EMPIRIQUE ET PHYSIQUE DE LA MOBILITE EFFECTIVE DES PORTEURS EST ETABLIE DANS LE DEUXIEME CHAPITRE. CETTE RELATION EXPLIQUE LE ROLE DE TROIS PRINCIPAUX MECANISMES DE COLLISIONS DANS LE MODELE EMPIRIQUE AINSI QUE LA VARIATION DE SES PARAMETRES AVEC LA TEMPERATURE. LE TROISIEME CHAPITRE EST RELATIF A LA VARIATION DE LA TENSION DE SEUIL (V#T#1) ET DU SWING (S) AVEC LA TEMPERATURE. NOUS ETUDIONS LA SENSIBILITE A LA TEMPERATURE DE V#T#1 ET DE S EN FONCTION DE LA LONGUEUR DE CANAL, DE L'EPAISSEUR DU FILM ET DE LA POLARISATION DE LA GRILLE ARRIERE. LA DIFFERENCE ENTRE DES TRANSISTORS A CANAL D'INVERSION ET D'ACCUMULATION EST EGALEMENT DISCUTEE. DANS LE DERNIER CHAPITRE NOUS DEVELOPPONS UNE METHODE POUR L'EXTRACTION DU GAIN DU TRANSISTOR BIPOLAIRE PARASITE. EN NOUS BASANT SUR LES VALEURS EXPERIMENTALES, NOUS PRESENTONS UN MODELE POUR LE GAIN EN FONCTION DE LA TEMPERATURE ET DES POLARISATIONS DE DRAIN ET DE GRILLE. ENSUITE, NOUS PROPOSONS UNE TECHNIQUE POUR LA SEPARATION DES EFFETS DE CANAL COURT, DE SUBSTRAT FLOTTANT ET D'AUTO-ECHAUFFEMENT EN UTILISANT LA VARIATION DE LA CONDUCTANCE DE SORTIE AVEC LA TEMPERATURE. EN CONCLUSION, NOS ETUDES ONT MONTRE QUE LA TECHNOLOGIE SOI COMPLETEMENT DEPLETEE REPOND A TOUTES LES EXIGENCES DES CIRCUITS INTEGRES HAUTES TEMPERATURES. CEPENDANT L'OPTIMISATION DES DISPOSITIFS EST INDISPENSABLE POUR GARANTIR LE FONCTIONNEMENT CORRECT DES CIRCUITS AUX TRES HAUTES TEMPERATURES.
Contribution à la modélisation des transistors MOS silicium sur isolant
Author: Eric MazaleyratPublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 158
Book Description
LE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DES DISPOSITIFS MOS AU SUBSTRAT ISOLANT. APRES UNE ANALYSE DES AVANTAGES ET INCONVENIENTS DE CETTE TECHNOLOGIE PAR RAPPORT A CELLES SUR SUBSTRAT MASSIF, L'AUTEUR ETUDIE A L'AIDE DE SIMULATEURS NUMERIQUES, LE COMPORTEMENT INTERNE DE LA STRUCTURE A DESERTION PROFONDE. UNE COMPARAISON ENTRE LE SOI DE TYPE SIMOX ET LE SOS EST DEVELOPPEE. LA COMPREHENSION DES MECANISMES PHYSIQUES ENTRANT EN JEU DANS LES DIODES CONTROLLEES PAR GRILLE, PERMET D'ELABORER UN MODELE PRECIS DE TRANSISTOR MOS
Modèles physiques et analyse du fonctionnement des composants MOS intégrés sur SIMOX
Author: Thierry OuissePublisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 216
Book Description
CE MEMOIRE EST CONSACRE A LA CARACTERISATION ET LA MODELISATION DES COMPOSANTS MOS DES TECHNOLOGIES SILICIUM SUR ISOLANT (SOI). LE PREMIER CHAPITRE CONTIENT UNE DESCRIPTION GENERALE DES DIFFERENTES TECHNOLOGIES SOI ET RAPPELLE L'INTERET DE TELLES STRUCTURES POUR LA MICROELECTRONIQUE, PUIS NOUS NOUS CONCENTRONS SUR LE MATERIAU SIMOX. NOUS DEVELOPPONS UNE ANALYSE DES EFFETS DE COUPLAGE ELECTRIQUE INTERVENANT ENTRE LES DIVERSES INTERFACES DES TRANSISTORS MOS SOI TOTALEMENT DESERTES. NOUS PROPOSONS ENSUITE UNE APPROCHE ANALYTIQUE ORIGINALE DES PHENOMENES D'HYSTERESIS ET DE CONDUCTANCE/TRANSCONDUCTANCE NEGATIVE APPARAISSANT DANS LES TRANSISTORS MOS SOI PARTIELLEMENT DESERTES. NOUS DEVELOPPONS L'ANALOGIE FORMELLE EXISTANT ENTRE CES EFFETS DE SUBSTRAT FLOTTANT ET UNE TRANSITION DE PHASE. L'APPLICATION DE LA TECHNIQUE DE POMPAGE DE CHARGE AUX STRUCTURES SOI EST DECRITE EN DETAIL, ET LA MISE EN EVIDENCE DE PHENOMENES SPECIFIQUES PERMET DE CLARIFIER LES CONDITIONS OPTIMALES D'UTILISATION. LES DEUX DERNIERS CHAPITRES TRAITENT DES MECANISMES PHYSIQUES DE DEGRADATION DES TRANSISTORS MOS SOI. NOUS ETUDIONS D'ABORD LES EFFETS D'UNE INJECTION DE PORTEURS CHAUDS PUIS CEUX D'UN RAYONNEMENT IONISANT. NOUS METTONS AINSI EN EVIDENCE LA STRUCTURE PHYSIQUE PARTICULIERE DE L'OXYDE ENTERRE OBTENU PAR IMPLANTATION D'OXYGENE