ACQUISITION DES IMAGES EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE IN SITU PDF Download
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Author: Hervé Le Floch Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 178
Book Description
CHAINE D'ACQUISITION DU SIGNAL IMAGE DU MEBIS. ETUDE DES SOURCES DE BRUIT ASSOCIEES AUX DETECTEURS A SEMICONDUCTEUR ET MISE AU POINT D'UN PROCESSUS DE REALISATION DE DIODES DE DETECTION A BARRIERE DE SURFACE. CONCEPTION D'UNE CARTE ELECTRONIQUE COMPATIBLE AVEC UN MICROORDINATEUR. CETTE CARTE PERMET LA NUMERISATION, LE STOCKAGE SUR DISQUETTE ET LA VISUALISATION DES IMAGES FOURNIES PAR LE MEBIS
Author: Hervé Le Floch Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 178
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CHAINE D'ACQUISITION DU SIGNAL IMAGE DU MEBIS. ETUDE DES SOURCES DE BRUIT ASSOCIEES AUX DETECTEURS A SEMICONDUCTEUR ET MISE AU POINT D'UN PROCESSUS DE REALISATION DE DIODES DE DETECTION A BARRIERE DE SURFACE. CONCEPTION D'UNE CARTE ELECTRONIQUE COMPATIBLE AVEC UN MICROORDINATEUR. CETTE CARTE PERMET LA NUMERISATION, LE STOCKAGE SUR DISQUETTE ET LA VISUALISATION DES IMAGES FOURNIES PAR LE MEBIS
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L'IMAGE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EST UN PARAMETRE TRES IMPORTANT POUR L'ANALYSE DE MATERIAUX. NOUS PROPOSONS DANS CE TRAVAIL D'AMELIORER LA QUALITE DES IMAGES TOUT EN OBTENANT DES TEMPS D'ACQUISITION RELATIVEMENT FAIBLES. CECI EST FAIT EN ADAPTANT LA VITESSE DE BALAYAGE AU RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT ESTIME SUR CHAQUE LIGNE DE L'IMAGE. LA PREMIERE PARTIE DU MEMOIRE EST CONSACREE A L'ETUDE SUCCINCTE DU MINI MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE TRANSPORTABLE, TRAVAILLANT IN SITU SUR OBJETS MASSIFS. NOUS PRESENTONS ENSUITE UNE PREMIERE CARTE D'ACQUISITION D'IMAGES OU UNE PREMIERE APPROCHE DE L'ACQUISITION ADAPTATIVE EST PROPOSEE. LE CHAPITRE SUIVANT EST CONSACRE A L'ETUDE THEORIQUE ET EXPERIMENTALE DU RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT EN FONCTION DE LA FREQUENCE DE BALAYAGE. DANS LE QUATRIEME CHAPITRE, NOUS PRESENTONS LE SYSTEME D'ACQUISITION ADAPTATIVE DES IMAGES REALISEES. LA DERNIERE PARTIE DU MEMOIRE ANALYSE LES DIFFERENTS RESULTATS OBTENUS. DES IMAGES REALISEES A PARTIR D'ELECTRONS RETRODIFFUSES ET D'ONDES ACOUSTIQUES SERONT ALORS PRESENTEES
Author: François Brisset Publisher: EDP Sciences ISBN: 2759803481 Category : Science Languages : fr Pages : 930
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Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.
Author: Hamid El Abdary Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 262
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LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE NECESSITE L'UTILISATION DE DETECTEURS D'ELECTRONS SENSIBLES ADAPTES AU MODE D'IMAGERIE SOUHAITE. NOUS AVONS ETUDIE ET REALISE DES DETECTEURS D'ELECTRONS RETRODIFFUSES FAIBLE BRUIT ADAPTES A UN DISPOSITIF EXPERIMENTAL PARTICULIER POUR LES OBSERVATIONS IN SITU. LA PREMIERE PARTIE DU MEMOIRE EST CONSACREE A L'ETUDE SUCCINCTE DU MINI MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE IN SITU (MEBIS) TRANSPORTABLE ET POUVANT TRAVAILLER DIRECTEMENT SUR OBJETS MASSIFS. AU DEUXIEME CHAPITRE, NOUS EFFECTUONS UNE ETUDE ANALYTIQUE DES DIFFERENTES CARACTERISTIQUES PHYSIQUES (ENERGETIQUES ET ANGULAIRES) DES ELECTRONS RETRODIFFUSES (BSE) EN VUE DE LEUR UTILISATION PAR DES DETECTEURS ADAPTES A LA CARACTERISATION CHIMIQUE (DETERMINATION DES NUMEROS ATOMIQUES Z) ET TOPOGRAPHIQUE D'OBJETS MASSIFS IN SITU. NOUS PRESENTONS ENSUITE LES DIFFERENTS DETECTEURS ET MODES DE DETECTION QUI ONT ETE UTILISES JUSQU'A PRESENT. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE A L'ETUDE ET LA REALISATION DE DETECTEURS-BSE ORIGINAUX A SCINTILLATION UTILISANT UNE LIAISON SOUPLE ENTRE LE SCINTILLATEUR ET LE PHOTOMULTIPLICATEUR (SYSTEME DE FIBRES OPTIQUES). IL S'AGIT TOUT D'ABORD D'UN DETECTEUR ANNULAIRE FOURNISSANT UN FORT CONTRASTE CHIMIQUE, PUIS D'UN DOUBLE DETECTEUR QUI PERMET LA SEPARATION DES DEUX CONTRASTES CHIMIQUE ET TOPOGRAPHIQUE ET D'UN TROISIEME DETECTEUR A CONTRASTE TOPOGRAPHIQUE RENFORCE. NOUS COMPARONS LES PERFORMANCES DE CES DETECTEURS AVEC D'AUTRES SYSTEMES DE DETECTION, NOTAMMENT AVEC LES DETECTEURS SEMICONDUCTEURS (DIODE SCHOTTKY ET JONCTION PN) EN TERMES DE RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT, EFFICACITE QUANTIQUE DE DETECTION ET BANDE PASSANTE. LES RESULTATS OBTENUS AVEC LES DETECTEURS PRECEDENTS NOUS ONT PERMIS DE REALISER UNE APPLICATION IMPORTANTE DE L'ENSEMBLE DOUBLE DETECTEUR-MEBIS. CETTE METHODE D'ANALYSE-BSE PRESENTEE AU CHAPITRE IV CONSISTE A DONNER, A PARTIR DE L'ACQUISITION ET DU TRAITEMENT DES IMAGES NUMERIQUES ENREGISTREES, UNE ESTIMATION RAPIDE DES DIFFERENTS CONSTITUANTS CHIMIQUES DE L'OBJET ANALYSE. LES IMAGES PRESENTEES DEMONTRENT QUE NOS DETECTEURS FOURNISSENT DE MEILLEURS RESULTATS ET QU'ILS POURRONT ETRE ASSOCIES AVEC PROFIT AU MINI MICROSCOPE MEBIS OU TOUT AUTRE MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EN MODE D'IMAGERIE PAR ELECTRONS RETRODIFFUSES
Author: José Maldonado Publisher: ISBN: Category : Languages : fr Pages : 189
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LE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE D'UN SYSTEME DE TRAITEMENT DES IMAGES PERMETTANT DE REALISER L'ACQUISITION ET L'INTEGRATION NUMERIQUE D'IMAGES VIDEO TV, D'IMAGES ELECTRONIQUES ET X ISSUES D'UN ENSEMBLE DE MICROSCOPIE ET D'ANALYSE ET LEUR VISUALISATION A L'AIDE D'UNE MEMOIRE D'IMAGES. ON DECRIT L'ARCHITECTURE DU SYSTEME ET LE LOGICIEL DE TRAITEMENT DES IMAGES
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DANS CE TRAVAIL, NOUS RECHERCHONS DES METHODES D'ANALYSE MORPHOLOGIQUE DES SURFACES RUGUEUSES, A L'ECHELLE MICROSCOPIQUE, A L'AIDE DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE ET DE LA MICROSCOPIE CONFOCALE. LE MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE (MEB) EN ELECTRONS SECONDAIRES PRESENTE UNE RESOLUTION, UNE PROFONDEUR DE CHAMP ET CONTRASTE TOPOGRAPHIQUE INTERESSANT POUR L'ETUDE DES MICRORELIEFS. MAIS IL NE FOURNIT PAS DE TOPOGRAPHIES, ET LA STEREOSCOPIE NE PERMET PAS DE LES CALCULER. PAR CONTRE, LE MICROSCOPE CONFOCAL PERMET D'OBTENIR DES TOPOGRAPHIES DE SURFACES RUGUEUSES, A PARTIR DE SERIES DE VUES CONFOCALES EN REFLEXION. NOUS DISPOSONS D'UNE PANOPLIE ASSEZ LARGE DE METHODES D'ANALYSE DES IMAGES DE MICRORELIEFS. AVANT NOTRE TRAVAIL, LES ANALYSES D'IMAGES EN NIVEAUX DE GRIS ETAIENT APPLIQUEES A DES CHAMPS COMPLETS. NOUS ADAPTONS LES PARAMETRES ET LES METHODES D'ETUDES EN NIVEAUX DE GRIS A L'ANALYSE INDIVIDUELLE. ENFIN, NOUS TRAVAILLONS SUR DES ZONES D'INTERET QUI NE SONT PAS ENTIEREMENT INCLUSES DANS UNE IMAGE. NOUS DECRIVONS DONC UNE METHODE D'ANALYSE EN CONNAISSANCE LOCALE D'UN ENSEMBLE EN NIVEAUX DE GRIS. CES POSSIBILITES NOUVELLES SONT APPLIQUEES DANS LE DOMAINE DES MATERIAUX. NOUS POURSUIVONS UNE ETUDE MORPHOLOGIQUE DES POUDRES DE TITANATE DE BARYUM EN UTILISANT LES NIVEAUX DE GRIS DANS LES IMAGES MEB. LA MORPHOLOGIE DES SURFACES D'ALUMINIUM CORRODE, ETUDIEE SUR LES TOPOGRAPHIES CONFOCALES, EN LIAISON AVEC LES MESURES GLOBALES, PEUT EXPLIQUER LE MICROMECANISME DE LA CORROSION
Author: BRACCINI Muriel Publisher: Lavoisier ISBN: 2746275511 Category : Languages : en Pages : 274
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Cet ouvrage rassemble différentes contributions autour des problèmes de mécanique posés par les interfaces solide/solide. Que ce soit dans les matériaux traditionnels (alliages polyphasés, composites) ou dans les nouvelles technologies (couches minces, nano- et micro-dispositifs) les interfaces sont omniprésentes et conditionnent souvent le fonctionnement optimal de ces structures multi-constituées. Les différents aspects abordés ont pour objectif d'apporter les notions de base nécessaires à l'étude et à la compréhension des états de déformation et de contrainte au voisinage des interfaces dans les matériaux hétérogènes et leurs conséquences pratiques. Cet ouvrage s'adresse aux ingénieurs confrontés à des problèmes spécifiques dus aux effets d'hétérogénéités ainsi qu'aux chercheurs scientifiques abordant les problèmes fondamentaux liés à l'influence d'une interface sur le comportement mécanique d'un élément de matière hétérogène. Il pourra également être utile aux étudiants d'école d'ingénieur, de master et de doctorat en physique de la matière condensée ou en science et génie des matériaux.
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La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Author: Hervé Le Floch
Author: Hervé Le Floch
Author: Nabil Boughanmi
Author: François Brisset
Author: Hamid El Abdary
Author: José Maldonado
Author: SEVERINE.. MATHIS
Author: 
Author: BRACCINI Muriel
Author: Paul-Dominique Vincensini
Author: Jacky Ruste